
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level.
NORMA vydaná dňa 6.9.2022
Označenie normy: BS EN IEC 60749-28:2022
Dátum vydania normy: 6.9.2022
Počet strán: 54
Približná hmotnosť: 162 g (0.36 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 539 13657 9 Status: Definitive