
Semiconductor devices. Metallization stress void test.
NORMA vydaná dňa 31.8.2010
Označenie normy: BS EN 62418:2010
Dátum vydania normy: 31.8.2010
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 62610 4 Status: Definitive