
Semiconductor devices. Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs).
NORMA vydaná dňa 30.6.2010
Označenie normy: BS EN 62417:2010
Dátum vydania normy: 30.6.2010
Počet strán: 12
Približná hmotnosť: 36 g (0.08 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 58622 4 Status: Definitive