
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bend testing methods of thin film materials.
NORMA vydaná dňa 31.10.2013
Označenie normy: BS EN 62047-18:2013
Dátum vydania normy: 31.10.2013
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 72011 6 Status: Definitive