BS EN 62047-17:2015

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films.

NORMA vydaná dňa 31.7.2015

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (315.60 EUR)

Anglicky -

Tlačené (315.60 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS EN 62047-17:2015
Dátum vydania normy: 31.7.2015
Počet strán: 34
Približná hmotnosť: 102 g (0.22 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS EN 62047-17:2015 :

ISBN: 978 0 580 72203 5 Status: Definitive