BS EN 62047-12:2011

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures.

NORMA vydaná dňa 30.11.2011

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (315.60 EUR)

Anglicky -

Tlačené (315.60 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS EN 62047-12:2011
Dátum vydania normy: 30.11.2011
Počet strán: 34
Približná hmotnosť: 102 g (0.22 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS EN 62047-12:2011 :

ISBN: 978 0 580 76301 4 Status: Definitive