BS EN 60749-44:2016

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.

NORMA vydaná dňa 30.11.2016

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (267.70 EUR)

Anglicky -

Tlačené (267.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS EN 60749-44:2016
Dátum vydania normy: 30.11.2016
Počet strán: 26
Približná hmotnosť: 78 g (0.17 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS EN 60749-44:2016 :

ISBN: 978 0 580 86203 8 Status: Definitive