
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Guidelines for IC reliability qualification plans.
NORMA vydaná dňa 22.9.2017
Označenie normy: BS EN 60749-43:2017
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 22.9.2017
Počet strán: 44
Približná hmotnosť: 132 g (0.29 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS