BS EN 60749-38:2008

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Soft error test method for semiconductor devices with memory.

NORMA vydaná dňa 30.6.2008

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (191.60 EUR)

Anglicky -

Tlačené (191.60 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS EN 60749-38:2008
Dátum vydania normy: 30.6.2008
Počet strán: 16
Približná hmotnosť: 48 g (0.11 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS EN 60749-38:2008 :

ISBN: 978 0 580 54875 8 Status: Definitive