Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.
NORMA vydaná dňa 30.5.2008
Označenie normy: BS EN 60749-37:2008
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.5.2008
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS