BS EN 60749-29:2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Latch-up test.

NORMA vydaná dňa 29.6.2004

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (243.10 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS EN 60749-29:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 29.6.2004
Počet strán: 24
Približná hmotnosť: 72 g (0.16 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS