BS EN 60749-28:2017

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). Device level.

NORMA vydaná dňa 10.7.2017

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (320.50 EUR)

Anglicky -

Tlačené (320.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS EN 60749-28:2017
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.7.2017
Počet strán: 50
Približná hmotnosť: 150 g (0.33 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS