
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Die shear strength.
NORMA vydaná dňa 31.10.2010
Označenie normy: BS EN 60749-19:2003+A1:2010
Dátum vydania normy: 31.10.2010
Počet strán: 10
Približná hmotnosť: 30 g (0.07 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 68745 7 Status: Definitive