BS EN 60749-14:2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Robustness of terminations (lead integrity).

NORMA vydaná dňa 15.12.2003

Informácie o norme:

Označenie normy: BS EN 60749-14:2003
Dátum vydania normy: 15.12.2003
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS