ASTM F980-16(2024)

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

NORMA vydaná dňa 1.1.2024

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (58.10 EUR)

Anglicky -

Tlačené (58.10 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F980-16(2024)
Dátum vydania normy: 1.1.2024
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F980-16(2024) :

Keywords:
annealing factor, annealing function, displacement damage, integrated circuits, neutron damage, neutron degradation, photoconducting device, rapid annealing, semiconductor devices,, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)