Test Method for Crystalographic Perfection of Silicon by Preferential Etch Techniques (Withdrawn 1998)
Označenie normy: ASTM F47-94
Poznámka: NEPLATNÁ
Počet strán: 11
Približná hmotnosť: 33 g (0.07 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
ICS Number Code 77.040.30 (Chemical analysis of metals)