Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
NORMA vydaná dňa 1.6.2016
Označenie normy: ASTM E431-96(2016)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.6.2016
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
electronic devices, nondestructive testing, radiographs, radiography, reference illustrations, semiconductors, x-ray,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)