ASTM F980M-96(2003)

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices [Metric]

NORMA vydaná dňa 10.6.1996

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (70.80 EUR)

Anglicky -

Tlačené (70.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F980M-96(2003)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.6.1996
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F980M-96(2003) :

Keywords:
annealing factor, displacement damage, integrated circuits, neutron damage, neutron degradation, rapid annealing, semiconductor devices