Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices (Includes all amendments And changes 2/2/2017).
NORMA vydaná dňa 1.12.2010
Označenie normy: ASTM F980-10e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.12.2010
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
annealing factor, annealing function, displacement damage, integrated circuits, neutron damage, neutron degradation, photoconducting device, rapid annealing, semiconductor devices ,, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)