NORMSERVIS s.r.o.

ASTM F928-02

Standard Test Methods for Edge Contour of Circular Semiconductor Wafers and Rigid Disk Substrates (Withdrawn 2003)

NORMA vydaná dňa 10.1.2002

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (62.40 EUR)
Anglicky -
Tlačené (62.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F928-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.1.2002
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F928-02 :

Keywords:
contour, edge contour, gallium arsenide, optical comparator, projection microscope, rigid disk, semiconductor, silicon, wafer, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)