ASTM F817-83(1990)

Test Method for Characterization of Film Resistor Materials and Processes (Withdrawn 1996)

NORMA vydaná dňa 1.1.1983

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (79.00 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F817-83(1990)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.1983
Počet strán: 16
Približná hmotnosť: 48 g (0.11 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F817-83(1990) :

Keywords:
Diffusion, Electrical conductors-semiconductors, Film resistors, Linwood least squares test, Microcircuits, Resistance and resistivity (electrical)-semiconductors, Resistors-film, Statistical methods-electronic components/devices, film resistor (thick/thin) materials/processes-characterization, test