ASTM F815-88(1993)e1

Test Method for Detection of Epitaxial Spikes (Withdrawn 1999) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NORMA vydaná dňa 1.1.1993

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (63.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F815-88(1993)e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.1993
Počet strán: 2
Približná hmotnosť: 6 g (0.01 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F815-88(1993)e1 :

Keywords:
Epitaxial spikes, Nondestructive evaluation (NDE)-semiconductors, Pass-fail test, Visual examination-electronic components/devices, epitaxial spike detection on silicon wafers, pass-fail test,, Silicon-semiconductor applications, wafers-epitaxial spike detection, test, ICS Number Code 31.080.30 (Transistors)