ASTM F80-94

Test Method for Crystallographic Perfection of Epitaxial Deposits of Silicon by Etching Techniques (Withdrawn 1998)

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (73.90 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F80-94
Poznámka: NEPLATNÁ
Počet strán: 9
Približná hmotnosť: 27 g (0.06 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F80-94 :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)