NORMSERVIS s.r.o.

ASTM F775-88

Test Method for Wafer and Slice Flatness by Interferometric (Withdrawn 1991)

Anglicky -
Elektronické PDF (70.50 EUR)
Anglicky -
Tlačené (70.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F775-88
Poznámka: NEPLATNÁ
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F775-88 :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)