NORMSERVIS s.r.o.

ASTM F769-00

Standard Test Method for Measuring Transistor and Diode Leakage Currents (Withdrawn 2006)

NORMA vydaná dňa 10.6.2000

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (61.80 EUR)
Anglicky -
Tlačené (61.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F769-00
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.6.2000
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F769-00 :

Keywords:
diode, junction leakage, leakage current, radiation testing, total radiation dose, transistor, ICS Number Code 31.080.10 (Diodes), 31.080.30 (Transistors)