Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NORMA vydaná dňa 31.10.1986
Označenie normy: ASTM F76-86(1996)e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 31.10.1986
Počet strán: 13
Približná hmotnosť: 39 g (0.09 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
gallium arsenide, Hall coefficient, Hall data, Hall mobility, Hall resistivity, semiconductor, silicon, single crystal, van der Pauw