Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits [Metric]
NORMA vydaná dňa 10.2.1997
Označenie normy: ASTM F744M-97(2003)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.2.1997
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
DIC, digital integrated circuits, dose rate, ionizing radiation, radiation dose rate, threshold for upset, upset