ASTM F672-88(1995)e1

Standard Test Method for Measuring Resistivity Profiles Perpendicular to the Surface of a Silicon Wafer Using a Spreading Resistance Probe (Includes all amendments And changes 3/2/2021).

NORMA vydaná dňa 10.6.2001

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (77.60 EUR)

Anglicky -

Tlačené (77.60 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F672-88(1995)e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.6.2001
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F672-88(1995)e1 :

Keywords:
carrier density profile, profile, resistivity profile, spreading resistance, spreading resistance probe, spreading resistance profile, SRP, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)