ASTM F671-99

Standard Test Method for Measuring Flat Length on Wafers of Silicon and Other Electronic Materials (Withdrawn 2003)

NORMA vydaná dňa 10.12.1999

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (62.90 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F671-99
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.1999
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F671-99 :

Keywords:
flats, optical comparator, orientation flats, semiconductor, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)