ASTM F613-93

Test Method for Measuring Diameter of Semiconductor Wafers (Withdrawn 2001)

NORMA vydaná dňa 1.1.1993

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (71.00 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F613-93
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.1993
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F613-93 :

Keywords:
Diameter-electronic components/devices, Electrical conductors-semiconductors, silicon slices/wafers- diameter, test,, Silicon-semiconductor applications, slices/wafers-diameter, test, ICS Number Code 77.040.01 (Testing of metals in general)