ASTM F525-00a

Standard Test Method for Measuring Resistivity of Silicon Wafers Using a Spreading Resistance Probe (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NORMA vydaná dňa 10.12.2000

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (77.90 EUR)

Anglicky -

Tlačené (77.90 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F525-00a
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.2000
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F525-00a :

Keywords:
calibration, epitaxial layer, resistivity, silicon, spreading resistance, spreading resistance probe, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)