ASTM F522-94

Test Method for Stacking Fault Density of Epitaxial Layers of Silicon by Interference-Contrast Microscopy (Withdrawn 1998)

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (62.50 EUR)

Anglicky -

Tlačené (62.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F522-94
Poznámka: NEPLATNÁ
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F522-94 :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)