
Standard Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum (Withdrawn 2003)
NORMA vydaná dňa 15.5.1992
Označenie normy: ASTM F398-92(2002)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 15.5.1992
Počet strán: 10
Približná hmotnosť: 30 g (0.07 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
gallium arsenide, germanium, infrared reflectance, majority carrier concentration, plasma resonance, semiconductors, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)