ASTM F397-02

Standard Test Method for Resistivity of Silicon Bars Using a Two-Point Probe (Withdrawn 2003)

NORMA vydaná dňa 10.12.2002

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (77.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F397-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.2002
Počet strán: 11
Približná hmotnosť: 33 g (0.07 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F397-02 :

Keywords:
polysilicon, resistivity, silicon, two-point probe, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)