Standard Test Methods for Minority Carrier Diffusion Length in Extrinsic Semiconductors by Measurement of Steady-State Surface Photovoltage (Withdrawn 2003)
NORMA vydaná dňa 10.12.2002
Označenie normy: ASTM F391-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.2002
Počet strán: 10
Približná hmotnosť: 30 g (0.07 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
diffusion length, minority carriers, polysilicon, silicon, single crystal silicon, surface photovoltag, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)