Standard Test Method for Measurement of Percent Crystallinity of Polyetheretherketone (PEEK) Polymers by Means of Specular Reflectance Fourier Transform Infrared Spectroscopy (R-FTIR)
NORMA vydaná dňa 15.11.2009
Označenie normy: ASTM F2778-09
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 15.11.2009
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
crystallinity, Fourier transmission infrared spectroscopy (FTIR), polyetheretherketone (PEEK), specular reflectance, ICS Number Code 83.080.20 (Thermoplastic materials)