Standard Test Methods for Determining the Orientation of a Semiconductive Single Crystal (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 3/2/2021).
NORMA vydaná dňa 1.1.1999
Označenie normy: ASTM F26-87a(1999)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.1999
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
germanium, orientation, preferential etch, semiconductor, silicon, X-ray diffraction, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)