ASTM F2358-04

Standard Guide for Measuring Characteristics of Sapphire Substrates

NORMA vydaná dňa 1.5.2004

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (71.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F2358-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.5.2004
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F2358-04 :

Keywords:
backside processing, compound semiconductors, flatness, form, front-to-front deviation (FFD), measurement, restrained, sag, sapphire, sapphire substrates, sori, taper, total thickness variation (TTV), unrestrained, ICS Number Code 25.100.70 (Abrasives)