ASTM F2166-02

Standard Practices for Monitoring Non-Contact Dielectric Characterization Systems Through Use of Special Reference Wafers (Withdrawn 2003)

NORMA vydaná dňa 10.1.2002

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (71.20 EUR)

Anglicky -

Tlačené (71.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F2166-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.1.2002
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F2166-02 :

Keywords:
dielectric tester, dielectric trap, effective charge, electrical dielectric thickness, flatband voltage, interface trap, line corona, mobile charge, point corona, ICS Number Code 19.080 (Electrical and electronic testing)