ASTM F2139-01

Standard Test Method for Measuring Nitrogen Concentration in Silicon Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry (Withdrawn 2003)

NORMA vydaná dňa 10.10.2001

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (71.10 EUR)

Anglicky -

Tlačené (71.10 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F2139-01
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.10.2001
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F2139-01 :

Keywords:
nitrogen concentration, secondary ion mass spectrometry, silicon, SIMS, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)