ASTM F1893-98

Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Burnout of Semiconductor Devices

NORMA vydaná dňa 10.5.1998

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (71.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1893-98
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.5.1998
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1893-98 :

Keywords:
burnout, failure, high dose-rate, integrated circuits, ionizing radiation, latchup, microcircuits, semiconductor devices, survivability, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)