ASTM F1893-11

Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices

NORMA vydaná dňa 1.1.2011

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (71.60 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1893-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.2011
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1893-11 :

Keywords:
burnout, failure, high dose-rate, integrated circuits, ionizing radiation, latchup, microcircuits, semiconductor devices, survivability, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)