ASTM F1892-04

Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices

NORMA vydaná dňa 1.5.2004

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (102.90 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1892-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.5.2004
Počet strán: 39
Približná hmotnosť: 117 g (0.26 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1892-04 :

Keywords:
ASIC (application specific integrated circuit), bipolar, cobalt 60 testing, gamma ray tests, ionizing radiation testing, MOS, radiation hardness, semiconductor devices, time dependent effects, total dose testing, X-ray testing, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)