NORMSERVIS s.r.o.

ASTM F1809-02

Standard Guide for Selection and Use of Etching Solutions to Delineate Structural Defects in Silicon (Withdrawn 2003)

NORMA vydaná dňa 10.12.2002

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (70.70 EUR)
Anglicky -
Tlačené (70.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1809-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.2002
Počet strán: 9
Približná hmotnosť: 27 g (0.06 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1809-02 :

Keywords:
defect density, dislocation, grain boundary, microscopic, polycrystalline, imperfection, preferential etch, silicon, slip, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)