ASTM F1771-97(2002)

Standard Test Method for Evaluating Gate Oxide Integrity by Voltage Ramp Technique (Withdrawn 2003)

NORMA vydaná dňa 10.2.1997

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (74.10 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1771-97(2002)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.2.1997
Počet strán: 8
Približná hmotnosť: 24 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1771-97(2002) :

Keywords:
current density, defect density, electric field strength, extrinsic breakdown, intrinsic breakdown, oxide breakdown, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)