NORMSERVIS s.r.o.

ASTM F1726-97

Standard Guide for Analyis of Crystallographic Perfection of Silicon Wafers

NORMA vydaná dňa 10.6.1997

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (62.60 EUR)
Anglicky -
Tlačené (62.60 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1726-97
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.6.1997
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1726-97 :

Keywords:
dislocation, epitaxy, grain boundaries, hillock, polycrystalline imperfections, preferential etch, shallow pit, silicon, slip, stacking fault, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)