ASTM F1725-97

Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots

NORMA vydaná dňa 10.6.1997

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (62.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1725-97
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.6.1997
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1725-97 :

Keywords:
dislocation, grain boundaries, ingot, polycrystaline imperfections, preferential etch, silicon, slip, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)