Standard Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy
NORMA vydaná dňa 10.1.2002
Označenie normy: ASTM F1723-96
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.1.2002
Počet strán: 9
Približná hmotnosť: 27 g (0.06 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
contaminants, float-zone crystal growth, impurities, polycrystalline silicon, polysilicon evaluation, segregation coefficient, single crystal silicon, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)