ASTM F1630-00

Standard Test Method for Low Temperature FT-IR Analysis of Single Crystal Silicon for III-V Impurities (Withdrawn 2003)

NORMA vydaná dňa 10.12.2000

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (71.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1630-00
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.2000
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1630-00 :

Keywords:
analysis of silicon, determination of dopants, determination of impurities, electrically active impurities, Fourier transform infrared, impurities, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)