ASTM F1619-95(2000)

Standard Test Method for Measurement of Interstitial Oxygen Content of Silicon Wafers by Infrared Absorption Spectroscopy with p-Polarized Radiation Incident at the Brewster Angle

NORMA vydaná dňa 15.9.1995

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (71.20 EUR)

Anglicky -

Tlačené (71.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1619-95(2000)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 15.9.1995
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1619-95(2000) :

Keywords:
Brewster angle, infrared absorption, interstitial oxygen, oxygen, silicon